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日本三丰工具测量显微镜MF-A3017B
日本三丰工具测量显微镜MF-A3017B

日本三丰工具测量显微镜MF-A3017B 它能对应明视野、明暗视野、偏光、微分干涉等各式各样的被测物之观察评估?!? 有同等级显微镜中更大的载物台(400×200㎜),并设计有大范围量测时很方便的快速移动装置?! ? Z轴附有高精度的光学尺?! ? 在Z轴的两侧都装有对焦旋钮,及内藏式X、Y轴归零按键等,亦是重视操作性的新设计?!? 处理系统搭配二次元资料A25D使用,尺寸量测更简易。

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供应日本mitutoyo三丰测量显微镜MF-A1010D
供应日本mitutoyo三丰测量显微镜MF-A1010D

供应日本mitutoyo三丰测量显微镜MF-A1010D 特点 可观察清晰无闪烁正像,且视场开阔。 测量精度在同类设备中高(符合JIS B 7153标准)。 使用ML系列,专门为MF系列设计的高NA物镜(长工作距离型)。 照明装置(反射/透射)可选用高亮度LED灯泡或卤素灯泡。 利用可变孔径光阑(反射/透射)可进行无衍射观察测量。 各类尺寸的标准工作台,z大达到400*200mm。

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日本三丰Mituyoyo显微镜——物镜378 系列
日本三丰Mituyoyo显微镜——物镜378 系列

日本三丰Mituyoyo显微镜——物镜378 系列 ? M/BD Plan Apo (M Plan Apochromat 亮视?。?系列具有在整个视野中实现高彩色再现性所需的图像均匀度。 ? 以下物镜支持波长范围广,包括近紫外、可见和紫外激光。专业 LCD 激光物镜 : M/LCDPlan NIR (-HR) 系列 (用于超长工作距离激光加工的近紫外校正透镜)

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三丰Mitutoyo视像显微镜装置VMU-V
三丰Mitutoyo视像显微镜装置VMU-V

三丰Mitutoyo视像显微镜装置VMU-V ? 紧凑轻量型显微镜,相机观察型。适于检测金属表面、半导体、液晶面板、树脂等。 ? 多种镜体通常用作适用于专业器械的 OEM(原厂委制) 产品,如那些利用 YAG (近红外、可见、近紫外或紫外) 激光 * 对半导体晶片进行检测和修补的设备。* 不保证激光系统产品的性能和安全性。

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日本三丰378系列半导体检测用显微镜FS70Z
日本三丰378系列半导体检测用显微镜FS70Z

日本三丰378系列半导体检测用显微镜FS70Z ? 带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。 ? 多种显微镜镜体通常用作适用于专业器械 的 OEM(原厂委制) 产 品, 如 那 些 利 用YAG(近红外、可见、近紫外或紫外) 激光 *对半导体晶片进行检测和修补的设备。* 不保证激光系统产品的性能和安全性。

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日本三丰 测量影像显微镜MF-B2017D
日本三丰 测量影像显微镜MF-B2017D

日本三丰 测量影像显微镜MF-B2017D ? 安装本单元可将您的测量显微镜升级为影像测量机。 ? 自动测量工具和各种宏图标可使测量一步到位。 ? 图像窗口和导航功能使测量操作简单易行。 ? 图形保存功能和数据输出至电子表格软件的功能为标准功能。 ? 与 Focus Pilot 装置组合使用,可进行高精度的高度测量 。

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